MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE

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• MICROSCOPIE

  • Écrit par Christian COLLIEX , Jean DAVOUST , Étienne DELAIN , Pierre FLEURY , Georges NOMARSKI , Frank SALVAN et Jean-Paul THIÉRY
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  Le premier microscope dérivé du microscope à effet tunnel est lemicroscope à force atomique (1985). Celui-ci utilise l'effet de proximité de la pointe et de l'échantillon et non le contrôle du courant tunnel. Ce type de microscopie peut donc permettre l'analyse de tous les matériaux, même ceux qui...

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